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计量器具校准延安-CNAS检测机构
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-02 22:00:10
计量器具校准延安-CNAS检测机构计量器具校准延安-CNAS检测机构
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
当选取的谐振回路器件满足振荡器起振条件时振荡器始工作,VCO内的有源器件等效构成的负电阻部分所的能量能够满足谐振回路所消耗的能量则振荡电路的振荡条件能够得以维持,VCO能够正常工作。然而,VCO实际的工作状态绝非理想状态,并不是设计时所定的终端连接理想的50欧姆负载,因此其终端负载条件的变化会导致VCO出现输出振荡频率发生变化的非线性现象,这就是频率牵引,其表征参数为频率牵引系数。从可以看出,从VCO输出看去的阻抗变化会引起VCO的有源器件结上直流电压的变化,也就是说,VCO输出反射回来的信号功率能引起晶体管漏电流和偏置点的波动,导致该双极型晶体管集电极与基极之间的电压(Vcb)发生变化,影响集电极与基极之间的电容(Ccb),从而通过影响整个回路的谐振状态和条件导致振荡频率和相位噪声的改变。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
当选取的谐振回路器件满足振荡器起振条件时振荡器始工作,VCO内的有源器件等效构成的负电阻部分所的能量能够满足谐振回路所消耗的能量则振荡电路的振荡条件能够得以维持,VCO能够正常工作。然而,VCO实际的工作状态绝非理想状态,并不是设计时所定的终端连接理想的50欧姆负载,因此其终端负载条件的变化会导致VCO出现输出振荡频率发生变化的非线性现象,这就是频率牵引,其表征参数为频率牵引系数。从可以看出,从VCO输出看去的阻抗变化会引起VCO的有源器件结上直流电压的变化,也就是说,VCO输出反射回来的信号功率能引起晶体管漏电流和偏置点的波动,导致该双极型晶体管集电极与基极之间的电压(Vcb)发生变化,影响集电极与基极之间的电容(Ccb),从而通过影响整个回路的谐振状态和条件导致振荡频率和相位噪声的改变。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
计量器具校准延安-CNAS检测机构
新方法还有如电子顺磁共振、原子标度应力测试、电子衍射、无反冲核的共振散射和吸收,激光诱发激波脉冲和正电子湮没等。目前,已有近5种方法被列为无损检测的范畴。由于汽车零部件几何形状复杂,要求设备水平高,使用材料复杂,要求设备多样化、精度高。另外,汽车零部件的生产是大工业生产,有一定节拍监测要求,且只有降低检测费用,才能降低汽车生产成本,提高在市场上的竞争能力。随着国民经济的发展,汽车工业已成为我国的支柱产业。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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新方法还有如电子顺磁共振、原子标度应力测试、电子衍射、无反冲核的共振散射和吸收,激光诱发激波脉冲和正电子湮没等。目前,已有近5种方法被列为无损检测的范畴。由于汽车零部件几何形状复杂,要求设备水平高,使用材料复杂,要求设备多样化、精度高。另外,汽车零部件的生产是大工业生产,有一定节拍监测要求,且只有降低检测费用,才能降低汽车生产成本,提高在市场上的竞争能力。随着国民经济的发展,汽车工业已成为我国的支柱产业。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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传统电源需要两台直流源分别相反方向的电流配合控制两台电源分别输出的控制回路来满足实验要求。解决方案IT6432双极性可编程电源可以实现正负电压输出,从而实现电流方向周期性改变。用一台it6432即可以完成该实验。操作方法利用list功能编辑3V/.5A1s和-3V/.5A5s两工步,客户该实验需要1~2周时间,设定好循环次数(65535次),既可以周期性改变电流方向的电流脉冲信号,轻松的完成该实验目的。
传统电源需要两台直流源分别相反方向的电流配合控制两台电源分别输出的控制回路来满足实验要求。解决方案IT6432双极性可编程电源可以实现正负电压输出,从而实现电流方向周期性改变。用一台it6432即可以完成该实验。操作方法利用list功能编辑3V/.5A1s和-3V/.5A5s两工步,客户该实验需要1~2周时间,设定好循环次数(65535次),既可以周期性改变电流方向的电流脉冲信号,轻松的完成该实验目的。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
计量器具校准延安-CNAS检测机构 说到的频谱分析仪通常用在射频领域,来观察和分析被测信号的频域特性,而我们常用其配合近场探头来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点,初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同,但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计,配合无源电压探头点测芯片的时钟输入引脚,就可以测量到频率,如下是各部分的电路结构:其中:CC2是晶体的负载电容,影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压探头的电路参数,R3是9Mohm,C3是几个pF不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容,R4是1Mohm,是几十pF不等如果使用频谱分析仪,配合近场探头靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率,这个频率也是晶体电路的振荡频率。
计量器具校准延安-CNAS检测机构 说到的频谱分析仪通常用在射频领域,来观察和分析被测信号的频域特性,而我们常用其配合近场探头来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点,初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同,但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计,配合无源电压探头点测芯片的时钟输入引脚,就可以测量到频率,如下是各部分的电路结构:其中:CC2是晶体的负载电容,影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压探头的电路参数,R3是9Mohm,C3是几个pF不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容,R4是1Mohm,是几十pF不等如果使用频谱分析仪,配合近场探头靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率,这个频率也是晶体电路的振荡频率。